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Congrès International de Métrologie 2017

 

18ème CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE 

cliquez ici pour voir le programme

CIM 2017

  

Rendez-vous incontournable de la métrologie, le CIM 2017 se tiendra à  Paris du 19 au 21 septembre 2017. Membre organisateur du Congrès, nous aurons le plaisir de vous y accueillir sur le stand C32 afin de vous faire partager notre vision pragmatique d’une métrologie performante. Nous aurons également le plaisir de présider la session « Metrologie 4.0 » le mercredi 20 septembre de 9h à  11h au cours de laquelle seront présentées les technologies de demain.


 

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