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Journée Technique collège français de métrologie

CFM 2017

 

Compte rendu de la journée technique du Collège Français de Métrologie

 

Gestion des instruments de mesure et optimisation des périodicités 

 

Le 16 novembre, s’est déroulée la journée technique du CFM consacrée à la gestion des moyens de mesure et aux périodicités d’étalonnage. Cette journée a connu un franc succès puisqu’elle affichait complet avec plus de 65 participants.

Nous avons apporté une large contribution à cette journée en présentant deux conférences :

  • la première sur l’utilisation des cartes de contrôle dans le cadre de la gestion des moyens de mesure et la mise en évidence des pièges qui peuvent se cacher derrière une exploitation trop rapide de ces cartes.
  • La deuxième concernait la présentation de la méthode OPPERET pour l’optimisation des périodicités d’étalonnage. Cette méthode est complémentaire de  celles proposées par le fascicule de l’AFNOR FD X 07 014. Elle est basée sur une méthode d’analyse de risque et de criticité des processus de mesure et des équipements de mesure intégrés dans ces processus.

Cette journée a été complétée par d’autres présentations pédagogiques de Patrick LEBLOIS (Comma Consulting) et Olivier DEMARS (Delta Mu) et de nombreux témoignages d’application très appréciés : Matthieu LEROY (SAFT Batteries), Benoit BOUDIER (LDAR Aisne), Michael DEVULDER (Alcatel Submarine Networks) et François DAUBENFELD (PSA Groupe)


 

 

 

 

 

 

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